在芯片研發與生產過程中，失效分析（FailureAnalysis,FA）是一項必不可少的環節。從實驗室樣品驗證到客戶現場應用，每一次失效背后，都隱藏著值得警惕的機理與經驗。致晟光電在長期的失效分析工作中，積累了大量案例與經驗，大家可以關注我們官方社交媒體賬號（小紅書、知乎、b站、公眾號、抖音）進行了解。在致晟光電，我們始終認為——真正的可靠性，不是避免失效，而是理解失效、解決失效、再防止復發。正是這種持續復盤與優化的過程，讓我們的失效分析能力不斷進化，也讓更多芯片產品在極端工況下依然穩定運行。Thermal Emission microscopy system, Thermal EMMI是一種利用紅外熱輻射來檢測和分析材料表面溫度分布的技術。國內熱紅外顯微鏡工作原理

致晟光電在 Thermal EMMI 技術的基礎上，融合了自主研發的 實時瞬態鎖相紅外熱分析技術（RTTLIT），提升了弱信號檢測能力。傳統 Thermal EMMI 在處理極低功耗芯片或瞬態缺陷時，容易受到環境熱噪聲干擾，而鎖相技術可以在特定頻率下同步提取信號，將信噪比提升數倍，從而捕捉到更細微的發熱變化。這種技術組合不僅保留了 Thermal EMMI 的非接觸、無損檢測優勢，還大幅拓寬了其應用場景——從傳統的短路、漏電缺陷分析，延伸到納瓦級功耗的功耗芯片、電源管理芯片以及新型傳感器的可靠性驗證。通過這一技術，致晟光電能夠為客戶提供更好、更快速的失效定位方案，減少剖片次數，降低分析成本，并提高產品開發迭代效率。中波熱紅外顯微鏡熱紅外顯微鏡范圍：探測視場可調節，從幾十微米到幾毫米，滿足微小樣品局部與整體熱分析需求。

ThermalEMMI（熱紅外顯微鏡）是一種先進的非破壞性檢測技術，廣泛應用于電子設備和半導體器件的精細故障定位。它能夠在不干擾或破壞被測對象的前提下，捕捉電子元件在工作狀態下釋放的微弱熱輻射和光信號，為工程師提供可靠的故障診斷和性能分析依據。尤其在復雜集成電路、高性能半導體器件以及精密印制電路板（PCB）的檢測中，ThermalEMMI能夠迅速識別異常發熱或發光區域，這些區域通常與潛在缺陷、設計不足或性能問題密切相關。通過對這些熱點的精確定位，研發和測試人員可以深入分析失效原因，指導工藝改進或芯片優化，從而提升產品可靠性和穩定性。此外，ThermalEMMI的非接觸式測量特點使其能夠在芯片研發、量產檢測和終端應用過程中實現連續監測，為工程師提供高效、精細的分析工具，加速問題排查和產品優化流程，成為現代電子檢測與失效分析的重要技術支撐。

 致晟光電研發的熱紅外顯微鏡配置了性能優異的InSb（銦銻）探測器，能夠在中波紅外波段（3–5 μm）有效捕捉熱輻射信號。該材料在光電轉換方面表現突出，同時具備極低的本征噪聲。

 在制冷條件下，探測器實現了納瓦級的熱靈敏度，并具備20mK以內的溫度分辨能力，非常適合高精度、非接觸式的熱成像測量需求。通過應用于顯微級熱紅外檢測系統，該探測器能夠提升空間分辨率，達到微米級別，并保持良好的溫度響應線性，從而為半導體器件及微電子系統中的局部發熱、熱量擴散與瞬態熱現象提供細致表征。與此同時，致晟光電在光學與熱控方面的自主設計也發揮了重要作用。

 高數值孔徑的光學系統與穩定的熱控平臺相結合，使InSb探測器能夠在多物理場耦合的復雜環境中實現高時空分辨的熱場成像，為電子器件失效機理研究、電熱效應分析及新型材料熱學性能測試提供了可靠的工具與支持。 熱紅外顯微鏡工作原理：利用紅外光學透鏡組收集樣品熱輻射，經分光系統分光后，由探測器接收并輸出熱信息。

在半導體產業加速國產化的浪潮中，致晟光電始終錨定半導體失效分析這一**領域，以技術創新突破進口設備壟斷，為國內半導體企業提供高性價比、高適配性的檢測解決方案。不同于通用型檢測設備，致晟光電的產品研發完全圍繞半導體器件的特性展開 —— 針對半導體芯片尺寸微小、缺陷信號微弱、檢測環境嚴苛的特點，其光發射顯微鏡整合了高性能 InGaAs 近紅外探測器、精密顯微光學系統與先進信號處理算法，可在芯片通電運行狀態下，精細捕捉異常電流產生的微弱熱輻射，高效定位從裸芯片到封裝器件的各類電學缺陷。它采用 鎖相放大（Lock-in）技術 來提取周期性施加電信號后伴隨熱信號的微弱變化。廠家熱紅外顯微鏡平臺

熱紅外顯微鏡成像：支持三維熱成像重構，通過分層掃描樣品不同深度，生成立體熱分布模型。國內熱紅外顯微鏡工作原理

熱點區域對應高溫部位，可能是發熱源或故障點；等溫線連接溫度相同點，能直觀呈現溫度梯度與熱量傳導規律。目前市面上多數設備受紅外波長及探測器性能限制，普遍存在熱點分散、噪點多的問題，導致發熱區域定位不準，圖像對比度和清晰度下降，影響溫度分布判斷的準確性。而致晟設備優勢是設備抗干擾能力強，可有效減少外界環境及內部器件噪聲影響，保障圖像穩定可靠；等溫線明顯，能清晰展現溫度相同區域，便于快速掌握溫度梯度與熱傳導情況，提升熱特性分析精度，同時成像效果大幅提升，具備更高的空間分辨率、溫度分辨率及對比度，可清晰呈現細微細節，為分析提供高質量的圖像支持。國內熱紅外顯微鏡工作原理